x射線熒光鍍層測厚儀

曉INSIGHT 鍍層分析儀是一款上照式鍍層分析儀，具有外觀緊湊、節(jié)約空間、易于操作、分析快速、檢測精準(zhǔn)等特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于常規(guī)和復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)的樣品進(jìn)行元素分析和厚度檢測，尤其是對不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品，確保客戶獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果以滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括：珠寶首飾、小零件、連接器鍍層、普通電路板等。

使用優(yōu)勢

多準(zhǔn)直器

多準(zhǔn)直器可選或多種準(zhǔn)直器組合由軟件自動(dòng)切換，可靈活應(yīng)對不同尺寸的零件。

一鍵式測量

配備直觀而智能的分析軟件，操作簡單，任何人無需培訓(xùn)都可以測試樣品，僅僅需要點(diǎn)擊“開始測試”，數(shù)十秒即可獲得檢測結(jié)果啦。

自動(dòng)對焦

高低大小樣品可快速清晰對焦，視頻圖像可放大、含十字線、自動(dòng)聚焦。

超大測量室

儀器殼體的開槽設(shè)計(jì)（C型槽）使得測量空間寬大，樣品放置便捷，可以測量如印刷線路板類大而平整的物品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。

無損檢測

X射線熒光是無損分析過程，不留任何痕跡，即使是對敏感性材料，其測量也是非常安全的。

高性能進(jìn)口探測器

選用適合于多元素鍍層的高靈敏度的半導(dǎo)體探測器，比起傳統(tǒng)的封氣正比計(jì)數(shù)器，半導(dǎo)體探測器具有更佳分辨率、更低的背景噪聲（最高 S/N 比）長期穩(wěn)定性以及更長的使用壽命。

可編程自動(dòng)位移樣品臺(tái)

可選配固定或電動(dòng)型自動(dòng)平臺(tái)，并且可編程以適應(yīng)廣泛的零件尺寸和測試量。固定樣品臺(tái)足以對易于定位檢測面積的電路板上一個(gè)或幾個(gè)位置進(jìn)行點(diǎn)檢。用戶可以使用固定樣品臺(tái)手動(dòng)定位樣品，但是對于具有復(fù)雜設(shè)計(jì)和極小特征的電路板，在電動(dòng)樣品臺(tái)上的處理效果會(huì)更好，這種樣品臺(tái)可提供更好的精確度來進(jìn)行微調(diào)。此外，INSIGHT還允許創(chuàng)建、保存和調(diào)用多點(diǎn)程序，以便對多個(gè)部件進(jìn)行自動(dòng)化測試。可編程 XY 載物臺(tái)與內(nèi)置模式識(shí)別軟件相結(jié)合，使大容量樣品測試既高效又一致。

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