Product
當(dāng)前位置：首頁 / 產(chǎn)品中心 / X射線衍射儀(XRD)
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
產(chǎn)品型號(hào)
FRINGE EV廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2023-11-16瀏覽次數(shù)
769產(chǎn)品描述
FRINGE桌面式X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現(xiàn)象，經(jīng)過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達(dá)X射線探測(cè)器上，最終經(jīng)過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在分析軟件上展現(xiàn)出采集的衍射圖譜。
產(chǎn)品型號(hào)
FRINGE EV廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2023-11-16瀏覽次數(shù)
777產(chǎn)品描述
FRINGE桌面式X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現(xiàn)象，經(jīng)過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達(dá)X射線探測(cè)器上，最終經(jīng)過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在分析軟件上展現(xiàn)出采集的衍射圖譜。
產(chǎn)品型號(hào)
FRINGE EV廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2023-11-16瀏覽次數(shù)
832產(chǎn)品描述
FRINGE桌面式X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現(xiàn)象，經(jīng)過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達(dá)X射線探測(cè)器上，最終經(jīng)過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在分析軟件上展現(xiàn)出采集的衍射圖譜。
產(chǎn)品型號(hào)
FRINGE廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2023-11-16瀏覽次數(shù)
751產(chǎn)品描述
FRINGE桌面式X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現(xiàn)象，經(jīng)過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達(dá)X射線探測(cè)器上，最終經(jīng)過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在分析軟件上展現(xiàn)出采集的衍射圖譜。
產(chǎn)品型號(hào)
LabStation-5廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2025-09-19瀏覽次數(shù)
1084產(chǎn)品描述
為您的檢測(cè)分析提供更靈活、更全能的XRD解決方案！
產(chǎn)品型號(hào)
SHINE 金屬腐蝕物版廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2024-07-05瀏覽次數(shù)
1452產(chǎn)品描述
X射線衍射基本原理：當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。
產(chǎn)品型號(hào)
SHINE 研究版廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2025-11-28瀏覽次數(shù)
1463產(chǎn)品描述
映SHINE便攜式X射線衍射儀是浪聲科學(xué)結(jié)合XRD、XRF和計(jì)算機(jī)軟件等多項(xiàng)技術(shù)，自主研發(fā)的一款便攜式X射線衍射設(shè)備。儀器通過對(duì)樣品進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制樣簡單、無污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)，是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。
產(chǎn)品型號(hào)
FRINGE EV廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2025-11-28瀏覽次數(shù)
2799產(chǎn)品描述
浪聲國產(chǎn)衍射儀,國產(chǎn)臺(tái)式xrd x衍射儀,FRINGE EV桌面式X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd,X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現(xiàn)象，經(jīng)過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達(dá)X射線探測(cè)器上，最終經(jīng)過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在分析軟件上展現(xiàn)出采集的衍射圖譜
產(chǎn)品型號(hào)
FRINGE CLASS廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2023-11-16瀏覽次數(shù)
2417產(chǎn)品描述
浪聲桌面式XRD FRINGE CLASS桌面式X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd,X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生衍射現(xiàn)象，經(jīng)過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達(dá)X射線探測(cè)器上，最終經(jīng)過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在分析軟件上展現(xiàn)出采集的衍射圖譜。